【产品推荐】JJ X-Ray XES光谱仪

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X 射线发射谱（X-ray Emission Spectroscopy, XES）是一种通过分析材料中X 射线发射过程中能量分布，深入研究物质电子结构和化学状态的技术。由于具有高灵敏度和元素选择性，XES广泛应用于材料科学、化学及物理学等领域。在XES实验中，常用的光谱仪类型包括von Hamos型和Johann型，分别适用于不同实验需求。

von Hamos 谱仪采用柱面晶体将X射线聚焦到探测器上，由于仅在一个维度聚焦，非常适合二维探测器的使用，能够在较短的距离内实现高分辨率成像，具备较高的分辨率和灵活性。通常用于需要高分辨率和紧凑几何设计的实验，尤其在配合二维探测器的情况下的表现。

Johann 谱仪则通过圆弧形晶体和几何布局，在两个维度上对X射线进行聚焦，能够实现更大的收集角和更高的探测效率，适合需要大收集角和高探测效率的实验，尤其在大面积探测中的表现。

上述两种谱仪各有优势，实验人员可根据实验需求选择合适的类型，或者将两者结合使用，提升XES测量的精度和效率。JJ X-Ray可提供von Hamos谱仪、Johann谱仪及其组合的定制化设计。

von Hamos谱仪：JJ X-Ray提供常规的4×4晶体阵列设计，并可根据客户需求灵活调整晶体数量和排列方式。此外，还可提供兼容真空或惰性气氛的设计。每块晶体由三个独立驱动器调节俯仰角，晶体可根据需要快速更换。下表为常规设计谱仪的部分参数。

Johann谱仪：JJ X-Ray可提供1-7个晶体台的常规配置，并可根据客户需求提供具有更多晶体台的设计方案。每个晶体具有4轴自由度，可根据实验需求进行水平和竖直方向的平移，以及方位角和俯仰角的调整。

JJ X-Ray还可提供von Hamos谱仪与Johann谱仪结合的实验站设计，满足多样化的实验需求，并可根据客户需求设计定制多轴样品调节台。

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